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Dektak XTL探针式轮廓仪
Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和
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探针式轮廓仪系统Dektak XTL
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Dektak XTL 探针式表面轮廓仪
Dektak XTL Stylus Profiler System Bruker’s new Dektak XTL™ stylus profiler accommodates
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探针式轮廓仪系统Dektak XTL
液晶屏研发的台阶步级高度测量触控面板薄膜厚度测量太阳能涂层薄膜测量柔性电子器件薄膜:有机光电探测器印于薄膜和玻璃上的有机薄膜触摸屏铜迹线探针式轮廓仪系统Dektak XTL技术参数软件选项:自动图形
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bruker布鲁克台阶仪Dektak XTL
Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站
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布鲁克轮廓仪 探针式表面 探针式表面(Stylus Profiler System)
screens Dektak XTL Stylus Profiler System Bruker new Dektak XTL stylus profiler accommodates samples
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Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)-DektakXT可选择三维测量以及数据分析
德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新
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Profilm 3D光学轮廓仪
Profilm3D 光学轮廓仪 低成本 – 高精度Filmetrics让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3D使用先进的垂直干涉扫描(WLI)与高精度的相位干涉(PSI)技术
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Dektak XT台阶仪
德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提到了过去四十年Dektak技术创新,更加巩固了其
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布鲁克台阶仪-表面轮廓仪
德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提到了过去四十年Dektak技术创新,更加巩固了其
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